| ID | 8099 |
| Eprint ID | 8099
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| フルテキストURL | |
| タイトル（別表記） | SiC及びSi/遷移金属(Ti, Ni)薄膜系の軟X線放出分光法及び光電子放出像による評価
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| 著者 |
Labis, Joselito Puzon
岡山大学
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| 備考 | 掲載順位 47
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| 発行日 | 2002-03-25
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| 出版物タイトル | |
| 資料タイプ |
学位論文
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| 学位授与番号 | 甲第2342号
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| 学位授与年月日 | 2002-03-25
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| 学位・専攻分野 |
博士（理学）
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| 授与大学 | 岡山大学
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| 言語 |
日本語
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| 論文のバージョン | none
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| 査読 |
不明
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